Svenska
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Svenska Български език✕
Om oss | Kontakta oss | Begär ett citat |
Hem > Produkter > Integrerade kretsar (ICs) > Logik - Speciallogik > SN74BCT8373ADW
SN74BCT8373ADW
Artikelnummer:
SN74BCT8373ADW
Tillverkare:
TI
Beskrivning:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
[LeadFreeStatus]未找到翻译
Blyfri / Överensstämmer med RoHS
Kvantitet:
49113 Pieces
Leveranstid:
1-2 days
Datablad:
SN74BCT8373ADW.pdf
Förfrågan

Introduktion

SN74BCT8373ADW bästa pris och snabb leverans.
BOSER Technology är distributören för SN74BCT8373ADW, vi har bestånden för omgående leverans och även tillgänglig för lång tid leverans. Vänligen skicka oss din köpplan för SN74BCT8373ADW via e-post, vi ger dig det bästa priset enligt din plan.
Vår email: [email protected]

Specifikationer

Tillstånd New and Original
Ursprung Contact us
Distributör Boser Technology
Matningsspänning:4.5 V ~ 5.5 V
Leverantörs Device Package:24-SOIC
Serier:74BCT
Förpackning:Tube
Förpackning / Fodral:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Andra namn:SN74BCT8373ADWE4
SN74BCT8373ADWE4-ND
SN74BCT8373ADWG4
SN74BCT8373ADWG4-ND
Driftstemperatur:0°C ~ 70°C
Antal bitar:8
Monteringstyp:Surface Mount
Fuktkänslighetsnivå (MSL):1 (Unlimited)
Tillverkarens normala ledtid:6 Weeks
Logik typ:Scan Test Device with D-Type Latches
Ledningsfri status / RoHS-status:Lead free / RoHS Compliant
detaljerad beskrivning:Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
Bas-delenummer:74BCT8373
Email:[email protected]

Snabbsökcitation

Artikelnummer
Kvantitet
Företag
E-post
Telefon
kommentarer

Relaterade delar till SN74BCT8373ADW

Bild Artikelnummer tillverkare Beskrivning Se
SN74BCT8240ANTG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP Förfrågan
SN74BCT8373ADWRG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC Förfrågan
SN74BCT8374ADW Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC Förfrågan
SN74BCT8374ADWRG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC Förfrågan
SN74BCT8374ANTG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP Förfrågan
SN74BCT8373ANT Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP Förfrågan
SN74BCT8373ADWR Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC Förfrågan
SN74BCT8245ADW Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC Förfrågan
SN74BCT8373ADWRE4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC Förfrågan
SN74BCT8244ADWR Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Förfrågan
SN74BCT8244ADW Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Förfrågan
SN74BCT8374ANT Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP Förfrågan
SN74BCT8245ANT Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP Förfrågan
SN74BCT8244ANT Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP Förfrågan
SN74BCT8244ANTG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP Förfrågan
SN74BCT8374ADWRE4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC Förfrågan
SN74BCT8244ADWE4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Förfrågan
SN74BCT8245ADWR Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC Förfrågan
SN74BCT8245ANTG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP Förfrågan
SN74BCT8374ADWR Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC Förfrågan

Latest News