русский
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Svenska Български език✕
О нас | Контакт | Запрос цитаты |
Главная > Продукты > Интегральные схемы (ICs) > Логика - специальности логика > SN74BCT8373ADW
SN74BCT8373ADW
Тип продуктов:
SN74BCT8373ADW
производитель:
TI
Описание:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
[LeadFreeStatus]未找到翻译
Без свинца / Соответствует RoHS
Количество:
49113 Pieces
Срок поставки:
1-2 days
Техническая спецификация:
SN74BCT8373ADW.pdf
запрос

Введение

SN74BCT8373ADW лучшая цена и быстрая доставка.
BOSER Technology является дистрибьютором SN74BCT8373ADW, у нас есть запасы для немедленной доставки, а также доступны для длительной поставки. Пожалуйста, отправьте нам свой план покупки для SN74BCT8373ADW по электронной почте, мы предложим вам лучшую цену согласно вашему плану.
Наш электронный адрес: [email protected]

Спецификация

Состояние New and Original
происхождения Contact us
дистрибьютор Boser Technology
Напряжение питания:4.5 V ~ 5.5 V
Поставщик Упаковка устройства:24-SOIC
Серии:74BCT
упаковка:Tube
Упаковка /:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Другие названия:SN74BCT8373ADWE4
SN74BCT8373ADWE4-ND
SN74BCT8373ADWG4
SN74BCT8373ADWG4-ND
Рабочая Температура:0°C ~ 70°C
Количество битов:8
Тип установки:Surface Mount
Уровень чувствительности влаги (MSL):1 (Unlimited)
Стандартное время изготовления:6 Weeks
Тип логики:Scan Test Device with D-Type Latches
Статус бесплатного свидания / Статус RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Подробное описание:Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
Номер базового номера:74BCT8373
Email:[email protected]

Быстрый запрос Цитировать

Тип продуктов
Количество
Компания
Эл. почта
Телефон
Примечание

Связанные части для SN74BCT8373ADW

Образ Тип продуктов Производители Описание Посмотреть
SN74BCT8240ANTG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP запрос
SN74BCT8373ADWRG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC запрос
SN74BCT8374ADW Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC запрос
SN74BCT8374ADWRG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC запрос
SN74BCT8374ANTG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP запрос
SN74BCT8373ANT Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP запрос
SN74BCT8373ADWR Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC запрос
SN74BCT8245ADW Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC запрос
SN74BCT8373ADWRE4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC запрос
SN74BCT8244ADWR Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC запрос
SN74BCT8244ADW Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC запрос
SN74BCT8374ANT Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP запрос
SN74BCT8245ANT Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP запрос
SN74BCT8244ANT Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP запрос
SN74BCT8244ANTG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP запрос
SN74BCT8374ADWRE4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC запрос
SN74BCT8244ADWE4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC запрос
SN74BCT8245ADWR Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC запрос
SN74BCT8245ANTG4 Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP запрос
SN74BCT8374ADWR Luminary Micro / Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC запрос

Latest Новости