SN74BCT8374ADWRE4
Modelo do Produto:
SN74BCT8374ADWRE4
Fabricante:
TI
Descrição:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
[LeadFreeStatus]未找到翻译
Sem chumbo / acordo com RoHS
Quantidade:
80638 Pieces
Tempo de entrega:
1-2 days
Ficha de dados:
SN74BCT8374ADWRE4.pdf

Introdução

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Especificações

Condição New and Original
Origem Contact us
Distribuidor Boser Technology
Tensão de alimentação:4.5 V ~ 5.5 V
Embalagem do dispositivo fornecedor:24-SOIC
Série:74BCT
Embalagem:Tape & Reel (TR)
Caixa / Gabinete:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Temperatura de operação:0°C ~ 70°C
Número de bits:8
Tipo de montagem:Surface Mount
Nível de sensibilidade à umidade (MSL):1 (Unlimited)
Tipo de lógica:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Status sem chumbo / status de RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Descrição detalhada:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
Número da peça base:74BCT8374
Email:[email protected]

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