SN74BCT8245ANTG4 - Luminary Micro / Texas Instruments Logika - Logika Specjalna

SN74BCT8245ANTG4

Part Number:: SN74BCT8245ANTG4

Producent:: TI

Opis:: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

[LeadFreeStatus]未找到翻译: Bezołowiowa / zgodna z RoHS

Ilość:: 35805 Pieces

Czas dostawy:: 1-2 days

Arkusz danych:: SN74BCT8245ANTG4.pdf

Zapytanie ofertowe

Wprowadzenie

SN74BCT8245ANTG4 najlepsza cena i szybka dostawa.

BOSER Technology jest dystrybutorem SN74BCT8245ANTG4, mamy zapasy do natychmiastowej wysyłki, a także dostępne na długi czas dostawy. Prześlij nam swój plan zakupu SN74BCT8245ANTG4 pocztą elektroniczną, a my damy Ci najlepszą cenę zgodnie z Twoim planem.
Nasz e-mail: [email protected]

Specyfikacje

Stan	New and Original
Pochodzenie	Contact us
Dystrybutor	Boser Technology
Źródło napięcia:	4.5 V ~ 5.5 V
Dostawca urządzeń Pakiet:	24-PDIP
Seria:	74BCT
Opakowania:	Tube
Package / Case:	24-DIP (0.300", 7.62mm)
Inne nazwy:	SN74BCT8245ANTE4 SN74BCT8245ANTE4-ND
temperatura robocza:	0°C ~ 70°C
Liczba bitów:	8
Rodzaj mocowania:	Through Hole
Poziom czułości na wilgoć (MSL):	1 (Unlimited)
Logic Type:	Scan Test Device with Bus Transceivers
Status bezołowiowy / status RoHS:	Lead free / RoHS Compliant
szczegółowy opis:	Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-PDIP
Podstawowy numer części:	74BCT8245
Email:	[email protected]

Podobne zamienne do SN74BCT8245ANTG4

Part Number	Producenci	Opis	Widok
SN74BCT8245ADWR	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8240ANTG4	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8244ANTG4	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8244ADW	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8373ADWRE4	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8374ADWR	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8245ANT	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8374ADWRG4	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8373ADWR	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8374ANT	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8245ADW	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8373ANT	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8240ANT	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8373ADW	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8244ANT	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8244ADWE4	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8374ADWRE4	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8374ADW	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8373ADWRG4	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC	Zapytanie ofertowe
SN74BCT8244ADWR	Luminary Micro / Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC	Zapytanie ofertowe

Wprowadzenie

Specyfikacje

Szybkie zapytanie ofertowe

Latest Aktualności