Indonesia
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Svenska Български език✕
Tentang kami | Hubungi kami | Permintaan Penawaran |
Rumah > Produk > Sirkuit Terpadu (IC) > Logika - Logika Khusus > SSTUH32864EC,551
SSTUH32864EC,551
SSTUH32864EC,551
Nomor bagian:
SSTUH32864EC,551
Pabrikan:
NXP Semiconductors / Freescale
Deskripsi:
IC BUFFER 1.8V 1/14BIT SOT536-1
[LeadFreeStatus]未找到翻译
Memimpin bebas / RoHS Compliant
Kuantitas:
60339 Pieces
Waktu pengiriman:
1-2 days
Lembaran data:
SSTUH32864EC,551.pdf
Penyelidikan

pengantar

SSTUH32864EC,551 harga terbaik dan pengiriman cepat.
BOSER Technology adalah distributor untuk SSTUH32864EC,551, kami memiliki stok untuk pengiriman segera dan juga tersedia untuk pasokan lama. Silakan kirim rencana pembelian Anda untuk SSTUH32864EC,551 melalui email, kami akan memberikan harga terbaik sesuai rencana Anda.
Email kami: [email protected]

Spesifikasi

Kondisi New and Original
Asal Contact us
Distributor Boser Technology
pasokan Tegangan:1.7 V ~ 1.9 V
Paket Perangkat pemasok:96-LFBGA (13.5x5.5)
Seri:-
Pengemasan:Tray
Paket / Case:96-LFBGA
Nama lain:935277951551
SSTUH32864EC-S
SSTUH32864EC-S-ND
Suhu Operasional:0°C ~ 70°C
Jumlah Bits:25, 14
mount Jenis:Surface Mount
Moisture Sensitivity Level (MSL):3 (168 Hours)
logika Jenis:1:2 Configurable Registered Buffer
Status Gratis Memimpin / Status RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Detil Deskripsi:1:2 Configurable Registered Buffer IC 96-LFBGA (13.5x5.5)
Nomor Bagian Dasar:74SSTUH32864
Email:[email protected]

Cepat Permintaan Penawaran

Nomor bagian
Kuantitas
Perusahaan
E-mail
Telepon
Komentar

bagian terkait untuk SSTUH32864EC,551

Gambar Nomor bagian Produsen Deskripsi Melihat
SSTUG32865ET/S,518 Image SSTUG32865ET/S,518 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 28BIT 160-TFBGA Penyelidikan
SSTUG32868ET/G,518 Image SSTUG32868ET/G,518 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 25BIT 176-LFBGA Penyelidikan
SSTUH32865ET,551 Image SSTUH32865ET,551 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 28BIT SOT802 Penyelidikan
SSTUF32866EHLF IDT (Integrated Device Technology) IC REGIST BUFF 25BIT DDR2 96-BGA Penyelidikan
SSTUF32866EHLFT IDT (Integrated Device Technology) IC REGIST BUFF 25BIT DDR2 96-BGA Penyelidikan
SSTUH32864EC,518 Image SSTUH32864EC,518 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 1/14BIT SOT536-1 Penyelidikan
SSTUH32865ET,557 Image SSTUH32865ET,557 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 28BIT SOT802 Penyelidikan
SSTUH32864EC,557 Image SSTUH32864EC,557 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 1/14BIT SOT536-1 Penyelidikan
SSTUH32864EC/G,551 Image SSTUH32864EC/G,551 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 1/14BIT SOT536-1 Penyelidikan
SSTUG32865ET/G,518 Image SSTUG32865ET/G,518 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 28BIT 160-TFBGA Penyelidikan
SSTUH32865ET/G,557 Image SSTUH32865ET/G,557 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 28BIT SOT802-1 Penyelidikan
SSTUG32868ET/S,518 Image SSTUG32868ET/S,518 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 25BIT 176-LFBGA Penyelidikan
SSTUG32866EC/G,518 Image SSTUG32866EC/G,518 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 25BIT 96-LFBGA Penyelidikan
SSTUH32864EC/G,518 Image SSTUH32864EC/G,518 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 1/14BIT SOT536-1 Penyelidikan
SSTUH32865ET/G,518 Image SSTUH32865ET/G,518 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 28BIT SOT802-1 Penyelidikan
SSTUH32865ET,518 Image SSTUH32865ET,518 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 28BIT SOT802 Penyelidikan
SSTUF32866AHLFT IDT (Integrated Device Technology) IC REGIST BUFF 25BIT DDR2 96-BGA Penyelidikan
SSTUH32865ET/G,551 Image SSTUH32865ET/G,551 NXP Semiconductors / Freescale IC REG BUFFER 28-BIT 160TFBGA Penyelidikan
SSTUG32866EC/S,518 Image SSTUG32866EC/S,518 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 25BIT 96-LFBGA Penyelidikan
SSTUH32864EC/G,557 Image SSTUH32864EC/G,557 NXP Semiconductors / Freescale IC BUFFER 1.8V 1/14BIT SOT536-1 Penyelidikan

Latest Berita