Български език
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Svenska Български език✕
За нас | Свържете се с нас | Заявете оферта |
У дома > Продукти > Интегрални схеми (интегрални схеми) > Логика - Сигнални превключватели, мултиплексори, д > MC10E167FNG
MC10E167FNG
MC10E167FNG
Номер на частта:
MC10E167FNG
Производител:
AMI Semiconductor / ON Semiconductor
описание:
IC MUX-REG 6BIT 2:1 ECL 28-PLCC
[LeadFreeStatus]未找到翻译
Без олово / RoHS съвместим
количество:
43787 Pieces
Време за доставка:
1-2 days
Информационен лист:
MC10E167FNG.pdf
Разследване

Въведение

MC10E167FNG най-добра цена и бърза доставка.
BOSER Technology е дистрибутор за MC10E167FNG, ние имаме запаси за незабавно изпращане и също така на разположение за дълго време доставка. Моля, изпратете ни план за покупка за MC10E167FNG по имейл, ние ще ви дадем най-добрата цена според вашия план.
Нашата електронна поща: [email protected]

Спецификации

състояние New and Original
произход Contact us
Дистрибутор Boser Technology
Източник на захранващо напрежение:Dual Supply
Напрежение - Доставка:±4.2 V ~ 5.7 V
Тип:Multiplexer
Пакет на доставчик на устройства:28-PLCC (11.51x11.51)
серия:10E
Опаковка:Tube
Пакет / касета:28-LCC (J-Lead)
Работна температура:-40°C ~ 85°C
Тип монтаж:Surface Mount
Ниво на чувствителност към влага (MSL):3 (168 Hours)
Статус за свободно състояние / състояние на RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Независими схеми:1
Подробно описание:Multiplexer 6 x 2:1 28-PLCC (11.51x11.51)
Ток - Изход висока, ниска:-
верига:6 x 2:1
Номер на базовата част:10E167
Email:[email protected]

Бързо заявка за оферта

Номер на частта
количество
Компания
Електронна поща
телефон
Коментари

Свързани части за MC10E167FNG

Изображение Номер на частта Производители описание изглед
MC10E171FNG Image MC10E171FNG AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC MUX 3BIT 4:1 5V ECL 28-PLCC Разследване
MC10E1652FN Image MC10E1652FN AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC COMPARATOR DUAL ECL 20PLCC Разследване
MC10E175FN Image MC10E175FN AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC LATCH 9BIT PARITY ECL 28-PLCC Разследване
MC10E175FNR2 Image MC10E175FNR2 AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC LATCH 9BIT PARITY ECL 28-PLCC Разследване
MC10E166FNG Image MC10E166FNG AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC COMP 9BIT MAGNITUDE 28-PLCC Разследване
MC10E1652L AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC COMPARATOR DUAL ECL 16-CDIP Разследване
MC10E166FNR2G Image MC10E166FNR2G AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC COMP 9BIT MAGNITUDE 28-PLCC Разследване
MC10E167FN Image MC10E167FN AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC MUX-REG 6BIT 2:1 ECL 28-PLCC Разследване
MC10E171FNR2 Image MC10E171FNR2 AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC MUX 3BIT 4:1 5V ECL 28-PLCC Разследване
MC10E166FN Image MC10E166FN AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC COMP 9BIT MAGNITUDE 28-PLCC Разследване
MC10E175FNR2G Image MC10E175FNR2G AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC LATCH 9BIT PARITY ECL 28-PLCC Разследване
MC10E175FNG Image MC10E175FNG AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC LATCH 9BIT PARITY ECL 28-PLCC Разследване
MC10E167FNR2 Image MC10E167FNR2 AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC MUX-REG 6BIT 2:1 ECL 28-PLCC Разследване
MC10E171FN Image MC10E171FN AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC MUX 3BIT 4:1 5V ECL 28-PLCC Разследване
MC10E1652FNR2G Image MC10E1652FNR2G AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC COMPARATOR DUAL ECL 20PLCC Разследване
MC10E167FNR2G Image MC10E167FNR2G AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC MUX-REG 6BIT 2:1 ECL 28-PLCC Разследване
MC10E166FNR2 Image MC10E166FNR2 AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC COMP 9BIT MAGNITUDE 28-PLCC Разследване
MC10E1652FNG Image MC10E1652FNG AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC COMPARATOR DUAL ECL 20PLCC Разследване
MC10E171FNR2G Image MC10E171FNR2G AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC MUX 3BIT 4:1 5V ECL 28-PLCC Разследване
MC10E1652FNR2 Image MC10E1652FNR2 AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC COMPARATOR DUAL ECL 20PLCC Разследване

Latest News