Български език
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Svenska Български език✕
За нас | Свържете се с нас | Заявете оферта |
У дома > Продукти > Интегрални схеми (интегрални схеми) > Интерфейс - Контролери > FT312D-32L1C-R
FT312D-32L1C-R
Номер на частта:
FT312D-32L1C-R
Производител:
FTDI (Future Technology Devices International, Ltd.)
описание:
IC USB HOST CTRL 32-LQFP
[LeadFreeStatus]未找到翻译
Без олово / RoHS съвместим
количество:
57719 Pieces
Време за доставка:
1-2 days
Информационен лист:
1.FT312D-32L1C-R.pdf2.FT312D-32L1C-R.pdf3.FT312D-32L1C-R.pdf
Разследване

Въведение

FT312D-32L1C-R най-добра цена и бърза доставка.
BOSER Technology е дистрибутор за FT312D-32L1C-R, ние имаме запаси за незабавно изпращане и също така на разположение за дълго време доставка. Моля, изпратете ни план за покупка за FT312D-32L1C-R по имейл, ние ще ви дадем най-добрата цена според вашия план.
Нашата електронна поща: [email protected]

Спецификации

състояние New and Original
произход Contact us
Дистрибутор Boser Technology
Напрежение - Доставка:2.97 V ~ 3.63 V
Пакет на доставчик на устройства:32-LQFP (7x7)
Стандарти:USB 2.0
серия:-
протокол:USB
Опаковка:Cut Tape (CT)
Пакет / касета:32-LQFP
Други имена:768-1182-1
Работна температура:-40°C ~ 85°C
Ниво на чувствителност към влага (MSL):3 (168 Hours)
Производител Стандартно време за доставка:10 Weeks
Статус за свободно състояние / състояние на RoHS:Lead free / RoHS Compliant
интерфейс:UART
функция:Controller
Подробно описание:USB Controller USB 2.0 UART Interface 32-LQFP (7x7)
Ток - Доставка:25mA
Email:[email protected]

Бързо заявка за оферта

Номер на частта
количество
Компания
Електронна поща
телефон
Коментари

Свързани части за FT312D-32L1C-R

Изображение Номер на частта Производители описание изглед
MAX3421EEHJ+ Image MAX3421EEHJ+ Maxim Integrated IC USB PERIPH/HOST CNTRL 32TQFP Разследване
FT312D-32Q1C-T Image FT312D-32Q1C-T FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB HOST CTRL 32-QFN Разследване
PM5420C-FGI Microsemi 2X10G + 16XSFP MULTI-RATE, MULTI Разследване
FT311D-32Q1C-T Image FT311D-32Q1C-T FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB ANDROID HOST CTRL QFN-32 Разследване
FT312D-32L1C-T Image FT312D-32L1C-T FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB HOST CTRL 32-LQFP Разследване
FT311D-32Q1C-R Image FT311D-32Q1C-R FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB ANDROID HOST CTRL QFN-32 Разследване
FT313HL-T FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB HS HOST CTRL LQFP-64 Разследване
FT313HP-T FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB HS HOST CTRL TQFP-64 Разследване
FT311D-32L1C-T FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB ANDROID HOST CTRL LQFP-32 Разследване
FT3001UMX Image FT3001UMX AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC RESET TIMER CONF DELAY 10UMLP Разследване
CY7C65213A-32LTXIT Image CY7C65213A-32LTXIT Cypress Semiconductor IC CONTROLLER USB 5V 32QFN Разследване
FT313HL-R FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB HS HOST CTRL LQFP-64 Разследване
PCI1510GGU Luminary Micro / Texas Instruments IC SGL-SLT PC CRDBUS CTLR 144BGA Разследване
FT312D-32Q1C-R Image FT312D-32Q1C-R FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB HOST CTRL 32-QFN Разследване
FT3001MPX Image FT3001MPX AMI Semiconductor / ON Semiconductor IC RESET TIMER 8-MLP Разследване
USB2517I-JZX-TR Image USB2517I-JZX-TR Micrel / Microchip Technology IC USB 2.0 7PORT HUB CTLR 64QFN Разследване
FT313HQ-T Image FT313HQ-T FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB HS HOST CTRL QFN-64 Разследване
FT311D-32L1C-R Image FT311D-32L1C-R FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB ANDROID HOST CTRL LQFP-32 Разследване
FT313HQ-R Image FT313HQ-R FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB HS HOST CTRL QFN-64 Разследване
FT313HP-R Image FT313HP-R FTDI (Future Technology Devices International, Ltd IC USB HS HOST CTRL TQFP-64 Разследване

Latest News