SN74BCT8374ADW
Número de pieza:
SN74BCT8374ADW
Fabricante:
TI
Descripción:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
[LeadFreeStatus]未找到翻译
Sin plomo / Cumple con RoHS
Cantidad:
59718 Pieces
El tiempo de entrega:
1-2 days
Ficha de datos:
SN74BCT8374ADW.pdf

Introducción

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Especificaciones

Condición New and Original
Origen Contact us
Distribuidor Boser Technology
Tensión de alimentación:4.5 V ~ 5.5 V
Paquete del dispositivo:24-SOIC
Serie:74BCT
embalaje:Tube
Paquete / Cubierta:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Otros nombres:296-33849-5
SN74BCT8374ADW-ND
SN74BCT8374ADWE4
SN74BCT8374ADWE4-ND
SN74BCT8374ADWG4
SN74BCT8374ADWG4-ND
Temperatura de funcionamiento:0°C ~ 70°C
Número de bits:8
Tipo de montaje:Surface Mount
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL):1 (Unlimited)
Tiempo de entrega estándar del fabricante:6 Weeks
Tipo de lógica:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Estado sin plomo / Estado RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Descripción detallada:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
Número de pieza base:74BCT8374
Email:[email protected]

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