Indonesia
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Svenska Български език✕
Tentang kami | Hubungi kami | Permintaan Penawaran |
Rumah > Produk > Kristal, Oscillator, Resonator > Kristal > NX3225SA-114.285MHZ-EXS00A-CS06528
NX3225SA-114.285MHZ-EXS00A-CS06528
NX3225SA-114.285MHZ-EXS00A-CS06528
Nomor bagian:
NX3225SA-114.285MHZ-EXS00A-CS06528
Pabrikan:
NDK
Deskripsi:
CRYSTAL 114.2850MHZ 18PF SMD
[LeadFreeStatus]未找到翻译
Memimpin bebas / RoHS Compliant
Kuantitas:
38322 Pieces
Waktu pengiriman:
1-2 days
Lembaran data:
NX3225SA-114.285MHZ-EXS00A-CS06528.pdf
Penyelidikan

pengantar

NX3225SA-114.285MHZ-EXS00A-CS06528 harga terbaik dan pengiriman cepat.
BOSER Technology adalah distributor untuk NX3225SA-114.285MHZ-EXS00A-CS06528, kami memiliki stok untuk pengiriman segera dan juga tersedia untuk pasokan lama. Silakan kirim rencana pembelian Anda untuk NX3225SA-114.285MHZ-EXS00A-CS06528 melalui email, kami akan memberikan harga terbaik sesuai rencana Anda.
Email kami: [email protected]

Spesifikasi

Kondisi New and Original
Asal Contact us
Distributor Boser Technology
Mengetik:MHz Crystal
Ukuran / Dimensi:0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm)
Seri:NX3225SA
penilaian:-
Pengemasan:Original-Reel®
Paket / Case:4-SMD, No Lead
Nama lain:644-1201-6
Suhu Operasional:-40°C ~ 85°C
Modus operasi:3rd Overtone
mount Jenis:Surface Mount
Moisture Sensitivity Level (MSL):1 (Unlimited)
Manufacturer Standard Lead Time:12 Weeks
beban Kapasitansi:18pF
Status Gratis Memimpin / Status RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Tinggi - Duduk (Max):0.024" (0.60mm)
frekuensi Toleransi:±20ppm
Stabilitas frekuensi:±20ppm
Frekuensi:114.285MHz
ESR (Resistance Series Equivalent):80 Ohms
Detil Deskripsi:114.285MHz ±20ppm Crystal 18pF 80 Ohms 4-SMD, No Lead
Email:[email protected]

Cepat Permintaan Penawaran

Nomor bagian
Kuantitas
Perusahaan
E-mail
Telepon
Komentar

bagian terkait untuk NX3225SA-114.285MHZ-EXS00A-CS06528

Gambar Nomor bagian Produsen Deskripsi Melihat
NX3225SA-16.000000MHZ-B3 Image NX3225SA-16.000000MHZ-B3 NDK CRYSTAL 16.0000MHZ 7.2PF SMD Penyelidikan
NX3225SA-13M-STD-CSR-6 Image NX3225SA-13M-STD-CSR-6 NDK CRYSTAL 13.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225GA-27.12M-STD-CRG-2 Image NX3225GA-27.12M-STD-CRG-2 NDK CRYSTAL 27.1200MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225SA-12.000MHZ-STD-CSR-1 Image NX3225SA-12.000MHZ-STD-CSR-1 NDK CRYSTAL 12.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225GD-10.000M-STD-CRA-3 Image NX3225GD-10.000M-STD-CRA-3 NDK CRYSTAL 10.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225SA-12.000M-STD-CRS-2 Image NX3225SA-12.000M-STD-CRS-2 NDK CRYSTAL 12.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225GD-8MHZ-STD-CRA-3 Image NX3225GD-8MHZ-STD-CRA-3 NDK CRYSTAL 8.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225SA-12.288M-STD-CSR-3 Image NX3225SA-12.288M-STD-CSR-3 NDK CRYSTAL 12.2880MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225SA-13.56M-STD-CSR-3 Image NX3225SA-13.56M-STD-CSR-3 NDK CRYSTAL 13.5600MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225GB-16M-STD-CRA-2 Image NX3225GB-16M-STD-CRA-2 NDK CRYSTAL 16.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225GD-8MHZ-EXS00A-CG04874 NDK CRYSTAL 8MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225GA-30.000M-STD-CRG-1 Image NX3225GA-30.000M-STD-CRG-1 NDK CRYSTAL 30.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225SA-14.31818MHZ-STD-CSR-1 Image NX3225SA-14.31818MHZ-STD-CSR-1 NDK CRYSTAL 14.31818MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225SA-12MHZ-STD-CSR-6 Image NX3225SA-12MHZ-STD-CSR-6 NDK CRYSTAL 12.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225SA-12MHZ-STD-CSR-3 Image NX3225SA-12MHZ-STD-CSR-3 NDK CRYSTAL 12.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225GA-32M-EXS00A-CG02611 Image NX3225GA-32M-EXS00A-CG02611 NDK CRYSTAL 32.0000MHZ 10PF SMD Penyelidikan
NX3225GA-27M-STD-CRG-2 Image NX3225GA-27M-STD-CRG-2 NDK CRYSTAL 27.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225GA-30.000M-STD-CRG-2 Image NX3225GA-30.000M-STD-CRG-2 NDK CRYSTAL 30.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225SA-12.288M-STD-CRS-2 Image NX3225SA-12.288M-STD-CRS-2 NDK CRYSTAL 12.2880MHZ 8PF SMD Penyelidikan
NX3225GB-20MHZ-STD-CRA-2 Image NX3225GB-20MHZ-STD-CRA-2 NDK CRYSTAL 20.0000MHZ 8PF SMD Penyelidikan

Latest Berita