Indonesia
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Svenska Български език✕
Tentang kami | Hubungi kami | Permintaan Penawaran |
Rumah > Produk > Sirkuit Terpadu (IC) > Linear - komparator > LTC6752ISC6-4#TRPBF
LTC6752ISC6-4#TRPBF
LTC6752ISC6-4#TRPBF
Nomor bagian:
LTC6752ISC6-4#TRPBF
Pabrikan:
ADI (Analog Devices, Inc.)
Deskripsi:
IC COMP R-R CMOS 280MHZ SC70-6
[LeadFreeStatus]未找到翻译
Memimpin bebas / RoHS Compliant
Kuantitas:
70349 Pieces
Waktu pengiriman:
1-2 days
Lembaran data:
LTC6752ISC6-4#TRPBF.pdf
Penyelidikan

pengantar

LTC6752ISC6-4#TRPBF harga terbaik dan pengiriman cepat.
BOSER Technology adalah distributor untuk LTC6752ISC6-4#TRPBF, kami memiliki stok untuk pengiriman segera dan juga tersedia untuk pasokan lama. Silakan kirim rencana pembelian Anda untuk LTC6752ISC6-4#TRPBF melalui email, kami akan memberikan harga terbaik sesuai rencana Anda.
Email kami: [email protected]

Spesifikasi

Kondisi New and Original
Asal Contact us
Distributor Boser Technology
Tegangan - Pasokan, Tunggal / Ganda (±):2.45 V ~ 5.25 V
Tegangan - Masukan Offset (Max):5.5mV @ 5V
Mengetik:General Purpose
Paket Perangkat pemasok:SC-70-6
Seri:-
Propagasi Delay (Max):5.3ns
Pengemasan:Tape & Reel (TR)
Paket / Case:6-VSSOP, SC-88, SOT-363
Output Type:CMOS
Suhu Operasional:-40°C ~ 85°C
Jumlah Elemen:1
mount Jenis:Surface Mount
Moisture Sensitivity Level (MSL):1 (Unlimited)
Status Gratis Memimpin / Status RoHS:Lead free / RoHS Compliant
histeresis:-
Detil Deskripsi:Comparator General Purpose CMOS SC-70-6
Saat ini - Diam (Max):2.65mA
Saat ini - Output (Typ):19mA @ 5V
Saat ini - Masukan Bias (Max):1.6µA @ 5V
CMRR, PSRR (Typ):-
Nomor Bagian Dasar:LTC6752
Email:[email protected]

Cepat Permintaan Penawaran

Nomor bagian
Kuantitas
Perusahaan
E-mail
Telepon
Komentar

bagian terkait untuk LTC6752ISC6-4#TRPBF

Gambar Nomor bagian Produsen Deskripsi Melihat
LTC6754HUD#TRPBF Image LTC6754HUD#TRPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMPARATOR R-R 12QFN Penyelidikan
LTC6754HUD#PBF Image LTC6754HUD#PBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMPARATOR R-R 12QFN Penyelidikan
LTC6752ISC6-1#TRPBF Image LTC6752ISC6-1#TRPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMP R-R CMOS 280MHZ SC70-6 Penyelidikan
LTC6752IUD-3#PBF Image LTC6752IUD-3#PBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMPARATOR 280MHZ 12QFN Penyelidikan
LTC6752HUD-3#TRPBF Image LTC6752HUD-3#TRPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMPARATOR 280MHZ 12QFN Penyelidikan
LTC6754HSC6#TRMPBF Image LTC6754HSC6#TRMPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMPARATOR R-R 6SC70 Penyelidikan
LTC6752IS5#TRPBF Image LTC6752IS5#TRPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMP R-R CMOS 280MHZ TSOT23-5 Penyelidikan
LTC6754HSC6 ADI (Analog Devices, Inc.) IC POWER MANAGEMENT Penyelidikan
LTC6752IUD-3#TRPBF Image LTC6752IUD-3#TRPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMPARATOR 280MHZ 12QFN Penyelidikan
LTC6754HSC6#PBF Image LTC6754HSC6#PBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMPARATOR R-R 6SC70 Penyelidikan
LTC6752ISC6-4#TRMPBF Image LTC6752ISC6-4#TRMPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMP R-R CMOS 280MHZ SC70-6 Penyelidikan
LTC6752ISC6-4 ADI (Analog Devices, Inc.) IC POWER MANAGEMENT Penyelidikan
LTC6752MPS5#TRMPBF Image LTC6752MPS5#TRMPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMP R-R CMOS 280MHZ 5SOT-23 Penyelidikan
LTC6752IS5#TRMPBF Image LTC6752IS5#TRMPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMP R-R CMOS 280MHZ TSOT23-5 Penyelidikan
LTC6752IMS8-2#TRPBF Image LTC6752IMS8-2#TRPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMPARATOR 280MHZ 8MSOP Penyelidikan
LTC6752MPS5#TRPBF Image LTC6752MPS5#TRPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMP R-R CMOS 280MHZ 5SOT-23 Penyelidikan
LTC6752ISC6-1#TRMPBF Image LTC6752ISC6-1#TRMPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMP R-R CMOS 280MHZ SC70-6 Penyelidikan
LTC6752IMS8-2#PBF Image LTC6752IMS8-2#PBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMPARATOR 280MHZ 8MSOP Penyelidikan
LTC6754HSC6#TRPBF Image LTC6754HSC6#TRPBF ADI (Analog Devices, Inc.) IC COMPARATOR R-R 6SC70 Penyelidikan
LTC6752ISC6-1 ADI (Analog Devices, Inc.) IC POWER MANAGEMENT Penyelidikan

Latest Berita